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介電常數(shù)測(cè)試儀測(cè)試方法

更新時(shí)間:2017-06-12      點(diǎn)擊次數(shù):3066

ZJD-B型介電常數(shù)測(cè)試儀使用方法 

一、ZJD-B型介電常數(shù)測(cè)試儀方法與步驟
1.把S916測(cè)試夾具裝置上的插頭插入到Q表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。


2.在Q表電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時(shí)電感取250uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH。
3.被測(cè)樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試精度下降,樣品要盡可能平整。
4.調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,使S916測(cè)試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。
5.再松開兩片極片,把被測(cè)樣品夾入平板電容上下極片之間,調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,直到平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,以免夾得過緊或過松),這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上。
6.取出S916測(cè)試夾具中的樣品,這時(shí)Q表又失去諧振,此時(shí)調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,使Q表再回到諧振點(diǎn)上,讀取測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4.
7.計(jì)算被測(cè)樣品的介電常數(shù):
                                Σ=D2 / D4

二、介質(zhì)損耗測(cè)試方法與步驟
1.把S916測(cè)試夾具裝置上的插頭插入到Q表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
2.在Q表電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時(shí)電感取250uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH。
3.被測(cè)樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試精度下降,樣品要盡可能平直。
4.調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,使S916測(cè)試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。再松開兩片極片,把被測(cè)樣品夾入兩片極片之間,調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,到的平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用S916測(cè)試夾具的,以免夾得過緊或過松),這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2,變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上,然后按一次 Q表上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x,記住厚度D2的值。
5.取出S916測(cè)試夾具中的樣品,(保持S916測(cè)試夾具的平板電容極片之間距不變)這時(shí)Q表又失去諧振,再改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表重新處于諧振點(diǎn)上。
6.第二次按下 Q表上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1,同時(shí)顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =.x x x x x ,即完成測(cè)試。
7.出錯(cuò)提示,當(dāng)出現(xiàn)tn =  NO 顯示時(shí),說明測(cè)試時(shí)出現(xiàn)了差錯(cuò),發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯(cuò)誤情況。        

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